Plánování testu pro SOC zohledňující příkon energie

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66874" target="_blank" >RIV/00216305:26230/06:PU66874 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Test Scheduling for SOC under Power Constraints
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with test scheduling under power constraints for SOC. An approach based on genetic algorithm operating on Test Application Conflict Graph is presented. The main goal of the method is to minimize test application time with considering structural resource allocation conflicts and to ensure that test application schedule does not exceed chip power limits. The proposed method was implemented using C++, experimental results with ITC'02 SOC benchmark suite are presented in the paper together with the perspectives for the future research.
Název v anglickém jazyce
Test Scheduling for SOC under Power Constraints
Popis výsledku anglicky
The paper deals with test scheduling under power constraints for SOC. An approach based on genetic algorithm operating on Test Application Conflict Graph is presented. The main goal of the method is to minimize test application time with considering structural resource allocation conflicts and to ensure that test application schedule does not exceed chip power limits. The proposed method was implemented using C++, experimental results with ITC'02 SOC benchmark suite are presented in the paper together with the perspectives for the future research.

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F0737" target="_blank" >GA102/04/0737: Moderní metody syntézy číslicových systémů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
ISBN
1-4244-0184-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
91-93
Název nakladatele
Czech Technical University Publishing House
Místo vydání
Prague
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
18. 4. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)