FITTest_BENCH06: Nová sada testovacích obvodů zohledňující jejich testovatelnost

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F06%3APU66893" target="_blank" >RIV/00216305:26230/06:PU66893 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties

Popis výsledku v původním jazyce

In the paper, the FITTest_BENCH06 set of synthetic benchmark circuits is presented for the evaluation of diagnostic methods and tools. The structure of benchmark circuits together with their diagnostic properties is described. The set consists of 31 circuits at various levels of complexity (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 and 300000 gates). Four circuits with different diagnostic properties are available for each level of circuit complexity (fault coverage is approx. 0%, 33%, 66% and 100%). The benchmark circuits are available both at the register transfer level and the gate level. In addition to the benchmark set, a method is described that was used to develop benchmark circuits with required complexity and diagnostic properties.

Název v anglickém jazyce

FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties

Popis výsledku anglicky

In the paper, the FITTest_BENCH06 set of synthetic benchmark circuits is presented for the evaluation of diagnostic methods and tools. The structure of benchmark circuits together with their diagnostic properties is described. The set consists of 31 circuits at various levels of complexity (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 and 300000 gates). Four circuits with different diagnostic properties are available for each level of circuit complexity (fault coverage is approx. 0%, 33%, 66% and 100%). The benchmark circuits are available both at the register transfer level and the gate level. In addition to the benchmark set, a method is described that was used to develop benchmark circuits with required complexity and diagnostic properties.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop

ISBN

1424401844

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

285-289

Název nakladatele

IEEE Computer Society

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

18. 4. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—