Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70866" target="_blank" >RIV/00216305:26230/07:PU70866 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Polymorfní elektronika je nový přístup k&nbsp;tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějších podmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato práce pojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsou vkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorů potřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V&nbsp;jednom režimu plní obvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s&nbsp;menším počtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v&nbsp;režimu prvním, přičemž pokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženo redukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný koncept přináší.

  • Název v anglickém jazyce

    Polymorphic gates for test optimalization

  • Popis výsledku anglicky

    Polymorphic electronics (polytronics) can be seen as a novel approach to the design of electronic circuits which are able to change their function with respect to the external conditions (temperature, light, power supply voltage, etc.). This paper showsnew application of polymorphic electronics. Polymorphic gates are inserted into conventional circuits for reduction count of test vector, which are needed for achieve of requested test parameters. In first mode new circuit behave as original circuit. Insecond mode this circuit can be tested with fewer test vectors with same fault coverage as original circuit. Six circuits were used in tests and count of test vectors can be reduced up to 50%. Article show some problems of this concept too.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F06%2F0599" target="_blank" >GA102/06/0599: Metody návrhu polymorfních číslicových obvodů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia

  • ISBN

    978-80-7043-605-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    41-46

  • Název nakladatele

    Západočeská univerzita v Plzni

  • Místo vydání

    Plzeň

  • Místo konání akce

    Srní

  • Datum konání akce

    17. 9. 2007

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku