Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F08%3APU76735" target="_blank" >RIV/00216305:26230/08:PU76735 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits

Popis výsledku v původním jazyce

Polymorphic gates can be considered as a new reconfigurable technology capable of integrating logic functions with sensing in a single compact structure. Polymorphic gates whose logic function can be controlled by the level of the power supply voltage (Vdd) represent a special class of polymorphic gates. A new polymorphic NAND/NOR gate controlled by Vdd is presented. This gate was fabricated and utilized in a self-checking polymorphic adder. This paper presents an experimental evaluation of this novel implementation.

Název v anglickém jazyce

Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits

Popis výsledku anglicky

Polymorphic gates can be considered as a new reconfigurable technology capable of integrating logic functions with sensing in a single compact structure. Polymorphic gates whose logic function can be controlled by the level of the power supply voltage (Vdd) represent a special class of polymorphic gates. A new polymorphic NAND/NOR gate controlled by Vdd is presented. This gate was fabricated and utilized in a self-checking polymorphic adder. This paper presents an experimental evaluation of this novel implementation.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F0599" target="_blank" >GA102/06/0599: Metody návrhu polymorfních číslicových obvodů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium

ISBN

978-0-7695-3264-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE Computer Society

Místo vydání

Los Alamitos

Místo konání akce

Rodos Palace Hotel

Datum konání akce

6. 7. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—