Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of the cover Voltage Transformers (VT)

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F13%3APU108320" target="_blank" >RIV/00216305:26310/13:PU108320 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of the cover Voltage Transformers (VT)

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The research report has 29 pages. It was prepared for the company ABB s.r.o.. Preparation and measurement of delivered samples is described. The structure of the cover Voltage Transformers (VT) was observed by the stereomicroscope ZEISS STEMI-2000 and the inverted light microscope ZEISS AXIO OBSERVER Z1m. The structure analysis of surface and element analysis was performed on a scanning electron microscope ZEISS EVO LS10 with an energy dispersive analyzer OXFORD X-Max 80 mm2. For the crystalline phase identification was performed a X-Ray Diffractometer EMPYREAN. The microhardness was measured using a LECO microhardness tester AMH43.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of the cover Voltage Transformers (VT)

  • Popis výsledku anglicky

    The research report has 29 pages. It was prepared for the company ABB s.r.o.. Preparation and measurement of delivered samples is described. The structure of the cover Voltage Transformers (VT) was observed by the stereomicroscope ZEISS STEMI-2000 and the inverted light microscope ZEISS AXIO OBSERVER Z1m. The structure analysis of surface and element analysis was performed on a scanning electron microscope ZEISS EVO LS10 with an energy dispersive analyzer OXFORD X-Max 80 mm2. For the crystalline phase identification was performed a X-Ray Diffractometer EMPYREAN. The microhardness was measured using a LECO microhardness tester AMH43.

Klasifikace

  • Druh

    V<sub>souhrn</sub> - Souhrnná výzkumná zpráva

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Počet stran výsledku

    29

  • Místo vydání

    Neuveden

  • Název nakladatele resp. objednatele

    Neuveden

  • Verze