Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Optical Characterization of Graphene Oxide Films by Spectroscopic Ellipsometry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F16%3APU118511" target="_blank" >RIV/00216305:26310/16:PU118511 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.scientific.net/MSF.851.199" target="_blank" >https://www.scientific.net/MSF.851.199</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.851.199" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/MSF.851.199</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Optical Characterization of Graphene Oxide Films by Spectroscopic Ellipsometry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper deals with the study of optical properties of graphene oxide (GO) by inkjet printing. Defined structure of GO can be obtained by reducing of prepared layers either by heating or by UV radiation (rGO). The dispersion function for refractive index and extinction coefficient of GO and both rGO thin films were measured by spectroscopic ellipsometry in the wavelength range of 200 – 850 nm. Spectroscopic ellipsometry (SE) was used characterize the optical response of layer of GO reduced by UV and thermal reduction GO in visible range.

  • Název v anglickém jazyce

    Optical Characterization of Graphene Oxide Films by Spectroscopic Ellipsometry

  • Popis výsledku anglicky

    The paper deals with the study of optical properties of graphene oxide (GO) by inkjet printing. Defined structure of GO can be obtained by reducing of prepared layers either by heating or by UV radiation (rGO). The dispersion function for refractive index and extinction coefficient of GO and both rGO thin films were measured by spectroscopic ellipsometry in the wavelength range of 200 – 850 nm. Spectroscopic ellipsometry (SE) was used characterize the optical response of layer of GO reduced by UV and thermal reduction GO in visible range.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>SC</sub> - Článek v periodiku v databázi SCOPUS

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10403 - Physical chemistry

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Materials Science Forum

  • ISSN

    0255-5476

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    neuveden

  • Číslo periodika v rámci svazku

    851

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    199-204

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84979019823