Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Adhesion and mechanical properties of a-CSi:H and a-CSiO:H thin films prepared by PECVD

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26310%2F18%3APU131465" target="_blank" >RIV/00216305:26310/18:PU131465 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Adhesion and mechanical properties of a-CSi:H and a-CSiO:H thin films prepared by PECVD

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The adhesion of the thin film (prepared by e.g. PVD or CVD) to the substrate is one of the most important properties and crucial attribute in determining of the thin film applications. Thin films with controlled adhesion are essential as anti-scratch, barrier, transparent, wear-resistant and antireflective coatings for surface modified materials. The greatest potential of this research for industrial applications is in glass-fiber-reinforced polymer composites without sharp interfaces and protective coatings. In this study, hydrogenated amorphous silicon-carbon (a-CSi:H) and hydrogenated amorphous carbon-silicon oxide (a-CSiO:H) thin films were characterized in terms of adhesion to the silicon substrate. Silicon wafers were pretreated with argon plasma (5.7 Pa, 10 sccm, 5 W, 10 min) using continuous wave to reach reproducible thin film adhesion. Thin films were deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) using pure tetravinylsilane (TVS) monomer or TVS in a mixture with argon or oxy

  • Název v anglickém jazyce

    Adhesion and mechanical properties of a-CSi:H and a-CSiO:H thin films prepared by PECVD

  • Popis výsledku anglicky

    The adhesion of the thin film (prepared by e.g. PVD or CVD) to the substrate is one of the most important properties and crucial attribute in determining of the thin film applications. Thin films with controlled adhesion are essential as anti-scratch, barrier, transparent, wear-resistant and antireflective coatings for surface modified materials. The greatest potential of this research for industrial applications is in glass-fiber-reinforced polymer composites without sharp interfaces and protective coatings. In this study, hydrogenated amorphous silicon-carbon (a-CSi:H) and hydrogenated amorphous carbon-silicon oxide (a-CSiO:H) thin films were characterized in terms of adhesion to the silicon substrate. Silicon wafers were pretreated with argon plasma (5.7 Pa, 10 sccm, 5 W, 10 min) using continuous wave to reach reproducible thin film adhesion. Thin films were deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) using pure tetravinylsilane (TVS) monomer or TVS in a mixture with argon or oxy

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10403 - Physical chemistry

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA16-09161S" target="_blank" >GA16-09161S: Syntéza multifunkčních plazmových polymerů pro polymerní kompozity bez rozhraní</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů