Metody charakterizace grafenu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F13%3APU104383" target="_blank" >RIV/00216305:26620/13:PU104383 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Metody charakterizace grafenu

Popis výsledku v původním jazyce

Grafen, monovrstva atomů uhlíku uspořádána do mřížky se šestičetnou symetrií, se pro své unikátní mechanické, elektronické a magnetické vlastnosti těší v posledních letech nebývale velkému zájmu vědců a to jak z hlediska teoretického, tak i aplikačního.Tento článek pojednává o přípravě grafenu metodami mechanické exfoliace a depozice z plynné fáze (CVD). Přitom je pozornost kladena na charakterizaci grafenových vrstev pomocí optické mikroskopie, reflektometrie, mikro-Ramanovy spektroskopie a mikroskopie atomárních sil (AFM), které jsou nezbytné při stanovení kvality získaných vrstev i zdokonalení přípravy grafenu.

Název v anglickém jazyce

Characterization methods of graphene

Popis výsledku anglicky

Graphene, a monolayer of carbon atoms arranged in a hexagonal grid, has been an object of great interest to scientists for its unique mechanical, electronic and magnetic properties both in terms of theoretical and application during the last decade. Thisarticle discusses the methods of graphene preparation by the mechanical exfoliation and chemical vapor deposition (CVD). At the same time the attention is focused on the characterization of graphene films using optical microscopy, reflectometry, micro-Raman spectroscopy and atomic force microscopy (AFM), which are essential in determining the quality of graphene layers and improving their preparation.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6441

e-ISSN

—

Svazek periodika

58

Číslo periodika v rámci svazku

6

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

184-186

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—