Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Complete Ring Artifacts Reduction Procedure for Lab-Based X-ray Nano CT Systems

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F21%3APU138751" target="_blank" >RIV/00216305:26620/21:PU138751 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.mdpi.com/1424-8220/21/1/238" target="_blank" >https://www.mdpi.com/1424-8220/21/1/238</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.3390/s21010238" target="_blank" >10.3390/s21010238</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Complete Ring Artifacts Reduction Procedure for Lab-Based X-ray Nano CT Systems

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this article, we introduce a new ring artifacts reduction procedure that combines several ideas from existing methods into one complex and robust approach with a goal to overcome their individual weaknesses and limitations. The procedure differentiates two types of ring artifacts according to their cause and character in computed tomography (CT) data. Each type is then addressed separately in the sinogram domain. The novel iterative schemes based on relative total variations (RTV) were integrated to detect the artifacts. The correction process uses the image inpainting, and the intensity deviations smoothing method. The procedure was implemented in scope of lab-based X-ray nano CT with detection systems based on charge-coupled device (CCD) and scientific complementary metal-oxide-semiconductor (sCMOS) technologies. The procedure was then further tested and optimized on the simulated data and the real CT data of selected samples with different compositions. The performance of the procedure was quantitatively evaluated in terms of the artifacts' detection accuracy, the comparison with existing methods, and the ability to preserve spatial resolution. The results show a high efficiency of ring removal and the preservation of the original sample's structure.

  • Název v anglickém jazyce

    Complete Ring Artifacts Reduction Procedure for Lab-Based X-ray Nano CT Systems

  • Popis výsledku anglicky

    In this article, we introduce a new ring artifacts reduction procedure that combines several ideas from existing methods into one complex and robust approach with a goal to overcome their individual weaknesses and limitations. The procedure differentiates two types of ring artifacts according to their cause and character in computed tomography (CT) data. Each type is then addressed separately in the sinogram domain. The novel iterative schemes based on relative total variations (RTV) were integrated to detect the artifacts. The correction process uses the image inpainting, and the intensity deviations smoothing method. The procedure was implemented in scope of lab-based X-ray nano CT with detection systems based on charge-coupled device (CCD) and scientific complementary metal-oxide-semiconductor (sCMOS) technologies. The procedure was then further tested and optimized on the simulated data and the real CT data of selected samples with different compositions. The performance of the procedure was quantitatively evaluated in terms of the artifacts' detection accuracy, the comparison with existing methods, and the ability to preserve spatial resolution. The results show a high efficiency of ring removal and the preservation of the original sample's structure.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    SENSORS

  • ISSN

    1424-8220

  • e-ISSN

    1424-3210

  • Svazek periodika

    21

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    20

  • Strana od-do

    1-20

  • Kód UT WoS článku

    000606236100001

  • EID výsledku v databázi Scopus