Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Transparent and conductive titanium nitride thin films for implantable bioelectronics deposited at low temperature using two Kaufman ion-beam sources

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F22%3APU150824" target="_blank" >RIV/00216305:26620/22:PU150824 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2022_sbornik_1_v2.pdf" target="_blank" >https://www.eeict.cz/eeict_download/archiv/sborniky/EEICT_2022_sbornik_1_v2.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Transparent and conductive titanium nitride thin films for implantable bioelectronics deposited at low temperature using two Kaufman ion-beam sources

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This work proposes ultra-thin films of titanium nitride as a material for the realization of transparent and conductive layers suitable for implantable bioelectronics. Results further show that good results of crystallography, transmittance, and sheet resistance can be achieved for thin films with thicknesses of 15 nm and 20 nm deposited at the beam energy of the primary ion source of 400 eV and temperature below 100 °C.

  • Název v anglickém jazyce

    Transparent and conductive titanium nitride thin films for implantable bioelectronics deposited at low temperature using two Kaufman ion-beam sources

  • Popis výsledku anglicky

    This work proposes ultra-thin films of titanium nitride as a material for the realization of transparent and conductive layers suitable for implantable bioelectronics. Results further show that good results of crystallography, transmittance, and sheet resistance can be achieved for thin films with thicknesses of 15 nm and 20 nm deposited at the beam energy of the primary ion source of 400 eV and temperature below 100 °C.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20200 - Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LM2018110" target="_blank" >LM2018110: Výzkumná infrastruktura CzechNanoLab</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2022

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings II of the Conference Student EEICT General papers

  • ISBN

    978-8-0214-6029-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    84-87

  • Název nakladatele

    Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    26. 4. 2022

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku