Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000011" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000011 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Popis výsledku v původním jazyce

An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. In the case of electrostatic force microscopy (EFM), it is a technique that detects an electric field above the surface of a sample. EFM allows the charge distribution on the sample surface to be sensed by a conductive tip that oscillates above the surface. An example of an EFM measurement is an image of an Au-Si-Al interface.

Název v anglickém jazyce

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Popis výsledku anglicky

An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. In the case of electrostatic force microscopy (EFM), it is a technique that detects an electric field above the surface of a sample. EFM allows the charge distribution on the sample surface to be sensed by a conductive tip that oscillates above the surface. An example of an EFM measurement is an image of an Au-Si-Al interface.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

21000 - Nano-technology

Projekt

<a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.