Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Piezoresponse Force Microscopy (PFM)

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000016" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000016 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Piezoresponse Force Microscopy (PFM)

  • Popis výsledku v původním jazyce

    An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The application note for the Piezoresponse Force Microscopy (PFM) technique describes its principle, which is to map the domain structure of piezoelectric materials on the sample surface. The method uses a lock-in amplifier to demodulate the oscillations of the sample surface caused by AC voltage. As an application example, a study of the use of a new material, Aluminum Scandium Nitride (AlScN), for the fabrication of high-frequency RF filters in mobile devices is presented. An application note provides information on the principle and potential applications of PFM in the analysis of piezoelectric materials.

  • Název v anglickém jazyce

    Piezoresponse Force Microscopy (PFM)

  • Popis výsledku anglicky

    An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The application note for the Piezoresponse Force Microscopy (PFM) technique describes its principle, which is to map the domain structure of piezoelectric materials on the sample surface. The method uses a lock-in amplifier to demodulate the oscillations of the sample surface caused by AC voltage. As an application example, a study of the use of a new material, Aluminum Scandium Nitride (AlScN), for the fabrication of high-frequency RF filters in mobile devices is presented. An application note provides information on the principle and potential applications of PFM in the analysis of piezoelectric materials.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    21000 - Nano-technology

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2023

  • Kód důvěrnosti údajů

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.