Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F04525671%3A_____%2F23%3AN0000016" target="_blank" >RIV/04525671:_____/23:N0000016 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Popis výsledku v původním jazyce
An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The application note for the Piezoresponse Force Microscopy (PFM) technique describes its principle, which is to map the domain structure of piezoelectric materials on the sample surface. The method uses a lock-in amplifier to demodulate the oscillations of the sample surface caused by AC voltage. As an application example, a study of the use of a new material, Aluminum Scandium Nitride (AlScN), for the fabrication of high-frequency RF filters in mobile devices is presented. An application note provides information on the principle and potential applications of PFM in the analysis of piezoelectric materials.
Název v anglickém jazyce
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Popis výsledku anglicky
An application note is a document detailing the use of a technique or application of an instrument. The application note for the Piezoresponse Force Microscopy (PFM) technique describes its principle, which is to map the domain structure of piezoelectric materials on the sample surface. The method uses a lock-in amplifier to demodulate the oscillations of the sample surface caused by AC voltage. As an application example, a study of the use of a new material, Aluminum Scandium Nitride (AlScN), for the fabrication of high-frequency RF filters in mobile devices is presented. An application note provides information on the principle and potential applications of PFM in the analysis of piezoelectric materials.
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
21000 - Nano-technology
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/FV40238" target="_blank" >FV40238: Pokročilé mikroskopické techniky</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2023
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.