RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F06%3ACV000002" target="_blank" >RIV/26722445:_____/06:CV000002 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

RBS, PIXE a NDP byly použity ke studiu inkorporace erbia do povrchu skla pro světelné aplikace

Popis výsledku v původním jazyce

Článek pojednává o zapracování erbia do silikátových skelných povrchů pro budoucí využití jeho aktivních fotonových struktur v analytických metodách na svazku. Implantace erbia probíhala iontovou výměnou z taveniny za ionty Li ze specielně navržených skelných substrátů. Složení opticky aktivních vrstev bylo studováno pomocí takových analytických metod na svazku jako např. RBS, PIXE. Metoda NDP (Neutronové hloubkové profilování) byla použita k vyhodnocení změn v rozdělení iontů Li+ u povrchu vyrobených vzorků. Viděli jsme mělké profily erbia, které byly doprovázeny mobilnějšími ionty Cs+ a Rb+, které byly uloženy v podstatně hlubších vrstvách než Er. Koncentrace Li ve skelných substrátech je ve skutečnosti ten nejdůležitější parametr pro difúzi Er do skelných substrátů.

Název v anglickém jazyce

RBS, PIXE and NDP study of erbium incorporation into glass surface for photonics applications

Popis výsledku anglicky

This paper reports on the fabrication and the characterisation of successful erbium in-diffusion into silicate glass surface for potential use in photonics active structures through ion beam analytical methods. The erbium doping occurred by ion exchangeof erbium ions from a molten source for lithium ions from the specially designed glass substrates. Composition of the optical layers was studied by ion beam analytical techniques: RBS (Rutherford backscattering spectroscopy) characterized depth distribution of the incorporated Er3+ ions and PIXE (particle induced X-ray emission spectroscopy) gave information on the total amount of erbium incorporated in the samples. The NDP (neutron depth profiling) method was used to evaluate changes in distribution ofLi+ ions in the surfaces of the fabricated samples. We observed shallow Er profiles that were accompanied by more mobile Cs+, Rb+ ions incorporated in the much deeper layer as compared to the Er.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B

ISSN

0168-583X

e-ISSN

—

Svazek periodika

249

Číslo periodika v rámci svazku

Aug. 2006

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

856-858

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—