Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of Neutron Irradiation on Indium-Containing III-V Semiconductor Micromonocrystals

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F13%3A%230000770" target="_blank" >RIV/26722445:_____/13:#0000770 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.543.273" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.543.273</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.543.273" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.543.273</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of Neutron Irradiation on Indium-Containing III-V Semiconductor Micromonocrystals

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper presents the results of the studies into the effect exerted by neutron irradiation on the parameters of microcrystals of III-V group semiconductor materials (InSb, InAs and their solid solutions). The values of optimum initial charge carrier concentration for each of the materials under research, which would allow them to retain maximum radiation resistance, have been determined. The obtained results can be employed in assessing the industrial semiconductor sensors operability in radiation environment.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of Neutron Irradiation on Indium-Containing III-V Semiconductor Micromonocrystals

  • Popis výsledku anglicky

    The paper presents the results of the studies into the effect exerted by neutron irradiation on the parameters of microcrystals of III-V group semiconductor materials (InSb, InAs and their solid solutions). The values of optimum initial charge carrier concentration for each of the materials under research, which would allow them to retain maximum radiation resistance, have been determined. The obtained results can be employed in assessing the industrial semiconductor sensors operability in radiation environment.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Key Engineering Materials

  • ISBN

  • ISSN

    1662-9795

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    273-276

  • Název nakladatele

    Trans Tech Publications Ltd.

  • Místo vydání

    Zurich, Switzerland

  • Místo konání akce

    Budapest, Hungary

  • Datum konání akce

    1. 1. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000319023100067