Úvod do hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS)

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26722445%3A_____%2F23%3AN0000093" target="_blank" >RIV/26722445:_____/23:N0000093 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Úvod do hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (SIMS)
Popis výsledku v původním jazyce
Metoda SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) je hmotnostní spektrometrií atomárních a molekulárních iontů, které jsou emitovány při bombardování povrchu pevné látky energetickými primárními částicemi (ionty nebo atomy). Proces, při kterém dochází k emisi atomárních a molekulárních částic v důsledku bombardování povrchu vzorku ionty, se nazývá odprašování. Většina odprašovaných částic je v neutrálním stavu. Pouze asi 1% je emitováno jako ionty. Analýza těchto sekundárních iontů hmotnostním spektrometrem je základem metody SIMS. Report CVR-4966.
Název v anglickém jazyce
Introduction to Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Popis výsledku anglicky
The SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) method is a mass spectrometry of atomic and molecular ions that are emitted when the surface of a solid is bombarded with energetic primary particles (ions or atoms). The process in which atomic and molecular particles are emitted due to ion bombardment of the sample surface is called dedusting. Most of the dedusted particles are in a neutral state. Only about 1% is emitted as ions. The analysis of these secondary ions by mass spectrometer is the basis of the SIMS method.

Rok uplatnění
2023
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)