Ověřená technologie růstu objemových krystalů karbidu křemíku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F21%3AN0000006" target="_blank" >RIV/26821532:_____/21:N0000006 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Ověřená technologie růstu objemových krystalů karbidu křemíku
Popis výsledku v původním jazyce
Ověřená technologie růstu objemových krystalů karbidu křemíku (SiC) - Physical Vapor Transport (PVT). Délka krystalu min. 1 cm, průměr krystalu >150 mm (tj. pro výrobu substrátů průměru 150 mm), rychlost růstu min. 0.1 mm/hod. Objemové vlastnosti krystalu vhodné pro polovodičové aplikace (tj. udržení parametrů zárodečné desky, bez dodatečných defektů).
Název v anglickém jazyce
Qualified technology for growth of bulk crystals of silicon carbide
Popis výsledku anglicky
Qualified technology of growth of bulk crystals of silicon carbide (SiC) - Physical Vapor Transport (PVT). Crystal length min. 1 cm, crystal diameter> 150 mm (for the production of substrates with a diameter of 150 mm), growth rate min. 0.1 mm / hour Crystal volume properties suitable for semiconductor applications (maintaining the parameters of the seed waifer, without additional defects).
Klasifikace
Druh
Z<sub>polop</sub> - Poloprovoz
CEP obor
—
OECD FORD obor
20501 - Materials engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/TH03020005" target="_blank" >TH03020005: Výzkum a vývoj objemových polovodičových materiálů s velkou šířkou zakázaného pásu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2021
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Údaje specifické pro druh výsledku
Interní identifikační kód produktu
TH03020005-V5
Číselná identifikace
—
Technické parametry
Ověřená technologie růstu objemových krystalů karbidu křemíku (SiC) - Physical Vapor Transport (PVT). Délka krystalu min. 1 cm, průměr krystalu >150 mm (tj. pro výrobu substrátů průměru 150 mm), rychlost růstu min. 0.1 mm/hod. Objemové vlastnosti krystalu vhodné pro polovodičové aplikace (tj. udržení parametrů zárodečné desky, bez dodatečných defektů).
Ekonomické parametry
Délka krystalu min. 1 cm, průměr krystalu >150 mm, cena krystalu <1000$/mm.
Kategorie aplik. výsledku dle nákladů
—
IČO vlastníka výsledku
26821532
Název vlastníka
ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.
Stát vlastníka
CZ - Česká republika
Druh možnosti využití
V - Výsledek je využíván vlastníkem
Požadavek na licenční poplatek
—
Adresa www stránky s výsledkem
—