TestAccess - obvod pro výuku

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000121" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:00000121 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Test Access Circuit for Education

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper our educational chip is presented. In order to demonstrate both diagnostic access method properties we have proposed a simple functional block equipped both with a ScanChain and RAS access, controlled by the TAP controllers.We would like topresent the basic chip features in this paper.

Název v anglickém jazyce

Test Access Circuit for Education

Popis výsledku anglicky

In this paper our educational chip is presented. In order to demonstrate both diagnostic access method properties we have proposed a simple functional block equipped both with a ScanChain and RAS access, controlled by the TAP controllers.We would like topresent the basic chip features in this paper.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of DDECS2005

ISBN

963-9364-48-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

27-32

Název nakladatele

—

Místo vydání

Sopron, Hungary

Místo konání akce

Sopron, Hungary

Datum konání akce

1. 1. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—