Obvod Test_access - srovnání sériového a paralelního rozhraní

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000122" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:00000122 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan

Popis výsledku v původním jazyce

A part of EduChip Test Access Block (TA block) is presented in this paper. This chip was developed to demonstrate the Boundary Scan and Random Access Scan, controlled by separated TAP controllers.This paper is focused particularly on the layout design and on the measured results.

Název v anglickém jazyce

Test_Access block - Serial Scan vs. Random Access Scan

Popis výsledku anglicky

A part of EduChip Test Access Block (TA block) is presented in this paper. This chip was developed to demonstrate the Boundary Scan and Random Access Scan, controlled by separated TAP controllers.This paper is focused particularly on the layout design and on the measured results.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Návrh vysoce spolehlivých řídících systémů pomocí dynamicky rekonfigurovatelných obvodů FPGA</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of MIXDES2005

ISBN

83-919289-9-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

861-865

Název nakladatele

—

Místo vydání

Krakow, Poland

Místo konání akce

Krakow, Poland

Datum konání akce

1. 1. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—