Obvody se sériovým diagnostickým poístupem a sní3enou spotoebou

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F06%3A03120660" target="_blank" >RIV/68407700:21230/06:03120660 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/46747885:24220/06:#0000032 RIV/46747885:24220/06:@0000228
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scan Based Circuits with Low Power Consumption
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper we present a low power scan design method. In order to maximize power savings and minimize the hardware overhead we have proposed a modified RAS diagnostic access method, which can be used together with the BS.
Název v anglickém jazyce
Scan Based Circuits with Low Power Consumption
Popis výsledku anglicky
In this paper we present a low power scan design method. In order to maximize power savings and minimize the hardware overhead we have proposed a modified RAS diagnostic access method, which can be used together with the BS.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the IEEE East-West Design & Test International Workshop
ISBN
966-659-124-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
206-211
Název nakladatele
Kharkov Institute of Physics and Technology
Místo vydání
Kharkov
Místo konání akce
Sochi
Datum konání akce
15. 9. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)