Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F08%3A%230001333" target="_blank" >RIV/46747885:24220/08:#0001333 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.

  • Název v anglickém jazyce

    Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

  • Popis výsledku anglicky

    This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/1QS108040510" target="_blank" >1QS108040510: Technologie pro zlepšení testovatelnosti moderních číslicových obvodů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EUROMICRO DSD 2008

  • ISBN

    978-0-7695-3277-6

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE COMPUTER SOC

  • Místo vydání

  • Místo konání akce

    Parma, Italy

  • Datum konání akce

    1. 1. 2008

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000264279400094