Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F08%3A%230001333" target="_blank" >RIV/46747885:24220/08:#0001333 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.
Název v anglickém jazyce
Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring
Popis výsledku anglicky
This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/1QS108040510" target="_blank" >1QS108040510: Technologie pro zlepšení testovatelnosti moderních číslicových obvodů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EUROMICRO DSD 2008
ISBN
978-0-7695-3277-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE COMPUTER SOC
Místo vydání
—
Místo konání akce
Parma, Italy
Datum konání akce
1. 1. 2008
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000264279400094