Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F08%3A%230001333" target="_blank" >RIV/46747885:24220/08:#0001333 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

Popis výsledku v původním jazyce

This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.

Název v anglickém jazyce

Efficient Tas Pattern Compression Method Using Hard Fault Preferring

Popis výsledku anglicky

This paper describes new compression method that is used for test pattern compaction and compression in algorithm called COMPAS, which utilizes a test data compression method based on pattern overlapping. This algorithm reorders and compresses deterministic test patterns previously generated in an ATPG by overlapping them. Independency of COMPAS on used ATPG is discussed and verified. New method improves compression ratio by preprocessing input data to determine the degree of random test resistance foreach fault. This information allows the algorithm to reorder test patterns more efficiently and results to 10% compression ratio improvement in average. Compressed data sequence is well suited for decompression by the scan chains in the embedded tester cores.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/1QS108040510" target="_blank" >1QS108040510: Technologie pro zlepšení testovatelnosti moderních číslicových obvodů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EUROMICRO DSD 2008

ISBN

978-0-7695-3277-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE COMPUTER SOC

Místo vydání

—

Místo konání akce

Parma, Italy

Datum konání akce

1. 1. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000264279400094