Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A%230001346" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:#0001346 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents a software tool for test pattern compaction combined with compression of the test patterns to further reduce test data volume and time requirement. Usually the test set compaction is performed independently on test compression. We have implemented a test compaction and compression scheme that reorders test patterns previously generated in an ATPG in such a way that they are well suited for decompression. The compressed test sequence is decompressed in a scan chain. No design changesare required to be done in the functional part of the circuit. The tool is called COMPAS and it finds a sequence of overlapping patterns; each pattern detects a maximum number of circuit faults.

  • Název v anglickém jazyce

    COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents a software tool for test pattern compaction combined with compression of the test patterns to further reduce test data volume and time requirement. Usually the test set compaction is performed independently on test compression. We have implemented a test compaction and compression scheme that reorders test patterns previously generated in an ATPG in such a way that they are well suited for decompression. The compressed test sequence is decompressed in a scan chain. No design changesare required to be done in the functional part of the circuit. The tool is called COMPAS and it finds a sequence of overlapping patterns; each pattern detects a maximum number of circuit faults.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    DEPENDABLE COMPUTING - EDCC-5, PROCEEDINGS

  • ISBN

    3-540-25723-3

  • ISSN

    0302-9743

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    12

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    SPRINGER-VERLAG BERLIN

  • Místo vydání

    Budapest, HUNGARY

  • Místo konání akce

    Budapest, HUNGARY

  • Datum konání akce

    1. 1. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku