COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A%230001346" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:#0001346 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a software tool for test pattern compaction combined with compression of the test patterns to further reduce test data volume and time requirement. Usually the test set compaction is performed independently on test compression. We have implemented a test compaction and compression scheme that reorders test patterns previously generated in an ATPG in such a way that they are well suited for decompression. The compressed test sequence is decompressed in a scan chain. No design changesare required to be done in the functional part of the circuit. The tool is called COMPAS and it finds a sequence of overlapping patterns; each pattern detects a maximum number of circuit faults.
Název v anglickém jazyce
COMPAS - Compressed test pattern sequencer for scan based circuits
Popis výsledku anglicky
This paper presents a software tool for test pattern compaction combined with compression of the test patterns to further reduce test data volume and time requirement. Usually the test set compaction is performed independently on test compression. We have implemented a test compaction and compression scheme that reorders test patterns previously generated in an ATPG in such a way that they are well suited for decompression. The compressed test sequence is decompressed in a scan chain. No design changesare required to be done in the functional part of the circuit. The tool is called COMPAS and it finds a sequence of overlapping patterns; each pattern detects a maximum number of circuit faults.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
DEPENDABLE COMPUTING - EDCC-5, PROCEEDINGS
ISBN
3-540-25723-3
ISSN
0302-9743
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPRINGER-VERLAG BERLIN
Místo vydání
Budapest, HUNGARY
Místo konání akce
Budapest, HUNGARY
Datum konání akce
1. 1. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—