Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Structural Test of Programmed FPGA Circuits

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F09%3A%230001334" target="_blank" >RIV/46747885:24220/09:#0001334 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Structural Test of Programmed FPGA Circuits

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present a new concept of the test method for FPGA devices. Instead of being focused on structural test of the device, the method tests logic and interconnection resources of the FPGA, that are actually used by implemented circuit. The method is basedon reconfiguration ability of nowadays FPGAs and utilizes test vectors originally created for ASIC circuits. We present an idea of circuit partitioning and a transcription scheme, that converts the FPGA netlist to the ASIC one. Preliminary results of test patterns efficiency on transformed benchmark circuits are presented.

  • Název v anglickém jazyce

    Structural Test of Programmed FPGA Circuits

  • Popis výsledku anglicky

    We present a new concept of the test method for FPGA devices. Instead of being focused on structural test of the device, the method tests logic and interconnection resources of the FPGA, that are actually used by implemented circuit. The method is basedon reconfiguration ability of nowadays FPGAs and utilizes test vectors originally created for ASIC circuits. We present an idea of circuit partitioning and a transcription scheme, that converts the FPGA netlist to the ASIC one. Preliminary results of test patterns efficiency on transformed benchmark circuits are presented.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F09%2F1668" target="_blank" >GA102/09/1668: Zvyšování spolehlivosti a provozuschopnosti v obvodech SoC</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    PROCEEDINGS OF THE 2009 IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS

  • ISBN

    978-1-4244-3339-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE COMPUTER SOC

  • Místo vydání

    CZECH REPUBLIC

  • Místo konání akce

    CZECH REPUBLIC, Liberec

  • Datum konání akce

    1. 1. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku