Structural Test of Programmed FPGA Circuits
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F09%3A%230001334" target="_blank" >RIV/46747885:24220/09:#0001334 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Structural Test of Programmed FPGA Circuits
Popis výsledku v původním jazyce
We present a new concept of the test method for FPGA devices. Instead of being focused on structural test of the device, the method tests logic and interconnection resources of the FPGA, that are actually used by implemented circuit. The method is basedon reconfiguration ability of nowadays FPGAs and utilizes test vectors originally created for ASIC circuits. We present an idea of circuit partitioning and a transcription scheme, that converts the FPGA netlist to the ASIC one. Preliminary results of test patterns efficiency on transformed benchmark circuits are presented.
Název v anglickém jazyce
Structural Test of Programmed FPGA Circuits
Popis výsledku anglicky
We present a new concept of the test method for FPGA devices. Instead of being focused on structural test of the device, the method tests logic and interconnection resources of the FPGA, that are actually used by implemented circuit. The method is basedon reconfiguration ability of nowadays FPGAs and utilizes test vectors originally created for ASIC circuits. We present an idea of circuit partitioning and a transcription scheme, that converts the FPGA netlist to the ASIC one. Preliminary results of test patterns efficiency on transformed benchmark circuits are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F09%2F1668" target="_blank" >GA102/09/1668: Zvyšování spolehlivosti a provozuschopnosti v obvodech SoC</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
PROCEEDINGS OF THE 2009 IEEE SYMPOSIUM ON DESIGN AND DIAGNOSTICS OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
ISBN
978-1-4244-3339-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE COMPUTER SOC
Místo vydání
CZECH REPUBLIC
Místo konání akce
CZECH REPUBLIC, Liberec
Datum konání akce
1. 1. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—