Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Photometric Flicker Metrics: Analysis and Perspectives

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F20%3A00008446" target="_blank" >RIV/46747885:24220/20:00008446 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/46747885:24410/20:00008446

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/9334816" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/9334816</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/IAS44978.2020.9334816" target="_blank" >10.1109/IAS44978.2020.9334816</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Photometric Flicker Metrics: Analysis and Perspectives

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper complement another presentation, and focus mainly on the mathematical framework behind flicker metrics. The purpose is to review the algorithms extracting the features of the light level temporal fluctuations, and establish some of their properties. As the signals from the physical world will invariably be contaminated by noise, the robustness of the metrics to approach the „true”value will be assessed. By doing so, alternatives will be studied.

  • Název v anglickém jazyce

    Photometric Flicker Metrics: Analysis and Perspectives

  • Popis výsledku anglicky

    This paper complement another presentation, and focus mainly on the mathematical framework behind flicker metrics. The purpose is to review the algorithms extracting the features of the light level temporal fluctuations, and establish some of their properties. As the signals from the physical world will invariably be contaminated by noise, the robustness of the metrics to approach the „true”value will be assessed. By doing so, alternatives will be studied.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    R - Projekt Ramcoveho programu EK

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2020 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, IAS 2020

  • ISBN

    9781728171920

  • ISSN

    0197-2618

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

  • Místo konání akce

    Detroit, MI, USA

  • Datum konání akce

    1. 1. 2020

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000680413800109