Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Improvement of luminescence properties of n-GaN using TEGa precursor

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F20%3A00010358" target="_blank" >RIV/46747885:24220/20:00010358 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68378271:_____/20:00533199 RIV/00216208:11320/20:10423674

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022024819305986?via=ihub" target="_blank" >https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022024819305986?via=ihub</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2019.125383" target="_blank" >10.1016/j.jcrysgro.2019.125383</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Improvement of luminescence properties of n-GaN using TEGa precursor

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The aim of this work is to compare and improve optical and structural properties of GaN layers prepared using TMGa or TEGa precursors. MOVPE grown GaN buffer layers on sapphire substrates are usually grown from TMGa precursor at the temperatures above 1000 degrees C. These layers contain deep and shallow acceptor levels which are responsible for blue and yellow defect bands in luminescent spectra. Both defect bands are detrimental for all major nitride device applications. Especially n-doped GaN layers suffer from strong yellow defect bands. In this work, it is shown that yellow band photoluminescence intensity can be suppressed by using TEGa precursor during the growth of n-doped GaN layers. Different kinds of growth parameters, such as growth temperature or growth rate, have been studied. It is also shown that the change of carrier gas (H-2 or N-2) has very strong influence on the layer quality. H-2 carrier gas increased intensity of yellow band in sample grown from TEGa precursor while N-2 carrier gas had the same effect for sample grown from TMGa precursor. Variable energy positron annihilation spectroscopy showed creation of single V-Ga in H-2 atmosphere and clustering of V-Ga to big complexes ((V-Ga)(3)(V-N)(n)) in N-2 atmosphere.

  • Název v anglickém jazyce

    Improvement of luminescence properties of n-GaN using TEGa precursor

  • Popis výsledku anglicky

    The aim of this work is to compare and improve optical and structural properties of GaN layers prepared using TMGa or TEGa precursors. MOVPE grown GaN buffer layers on sapphire substrates are usually grown from TMGa precursor at the temperatures above 1000 degrees C. These layers contain deep and shallow acceptor levels which are responsible for blue and yellow defect bands in luminescent spectra. Both defect bands are detrimental for all major nitride device applications. Especially n-doped GaN layers suffer from strong yellow defect bands. In this work, it is shown that yellow band photoluminescence intensity can be suppressed by using TEGa precursor during the growth of n-doped GaN layers. Different kinds of growth parameters, such as growth temperature or growth rate, have been studied. It is also shown that the change of carrier gas (H-2 or N-2) has very strong influence on the layer quality. H-2 carrier gas increased intensity of yellow band in sample grown from TEGa precursor while N-2 carrier gas had the same effect for sample grown from TMGa precursor. Variable energy positron annihilation spectroscopy showed creation of single V-Ga in H-2 atmosphere and clustering of V-Ga to big complexes ((V-Ga)(3)(V-N)(n)) in N-2 atmosphere.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20500 - Materials engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Crystal Growth

  • ISSN

    0022-0248

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    531

  • Číslo periodika v rámci svazku

    FEB

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000504205900023

  • EID výsledku v databázi Scopus