Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Some Nonlinear Electromechanical Properties of Thin PZT and ZnO Compositions Deposited on the Si-Substrate

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24510%2F08%3A%230000279" target="_blank" >RIV/46747885:24510/08:#0000279 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Some Nonlinear Electromechanical Properties of Thin PZT and ZnO Compositions Deposited on the Si-Substrate

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper deals with electromechanical properties of piezoelectric PZT (54/46) compositions near MPB, (001)-orientation, rhombohedral PZT (60/40) (111), and ZnO (002) thin films sputtered on the Pt/Ti/SiO2/Si substrates. The thin film samples were investigated under high electric excitations and corresponding strains. The samples exhibit frequency dispersion and nonlinear piezoelectric response (hysteresis), i.e. the nonlinear dependence of the mechanical displacement d0 (or effective piezoelectric coefficient d33,eff) on the electric field. I the case of ZnO samples, the remarkable decrease of the mechanical displacement d0 in the frequency range (0.1-1.5) kHz was found. These results are compared with data obtained on the PZT (60/40) (111) sample. The nonlinear electromechanical properties of the PZT and ZnO thin films were investigated using the original double beam laser interferometer at room temperature. The results are discussed and compared with the published data.

  • Název v anglickém jazyce

    Some Nonlinear Electromechanical Properties of Thin PZT and ZnO Compositions Deposited on the Si-Substrate

  • Popis výsledku anglicky

    The paper deals with electromechanical properties of piezoelectric PZT (54/46) compositions near MPB, (001)-orientation, rhombohedral PZT (60/40) (111), and ZnO (002) thin films sputtered on the Pt/Ti/SiO2/Si substrates. The thin film samples were investigated under high electric excitations and corresponding strains. The samples exhibit frequency dispersion and nonlinear piezoelectric response (hysteresis), i.e. the nonlinear dependence of the mechanical displacement d0 (or effective piezoelectric coefficient d33,eff) on the electric field. I the case of ZnO samples, the remarkable decrease of the mechanical displacement d0 in the frequency range (0.1-1.5) kHz was found. These results are compared with data obtained on the PZT (60/40) (111) sample. The nonlinear electromechanical properties of the PZT and ZnO thin films were investigated using the original double beam laser interferometer at room temperature. The results are discussed and compared with the published data.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA202%2F07%2F1289" target="_blank" >GA202/07/1289: Elektromechanické vlastnosti pokročilých feroelektrických materiálů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Ferroelectrics

  • ISSN

    0015-0193

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    neuvedeno

  • Číslo periodika v rámci svazku

    370

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus