Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F03%3A%230002019" target="_blank" >RIV/47813059:19240/03:#0002019 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
Popis výsledku v původním jazyce
Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained...
Název v anglickém jazyce
Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
Popis výsledku anglicky
Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained...

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY 2003: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
ISBN
0-8194-5368-4
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
Místo vydání
USA
Místo konání akce
Ostrava, CZECH REPUBLIC
Datum konání akce
1. 1. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
000221853300024

Podobné výsledky(10)