Měření absolutní vzdálenosti s mikrometrovým rozlišením pomocí spektrálních interferogramů v bílém světle zpracovaných metodou PLL.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F04%3A%230002011" target="_blank" >RIV/47813059:19240/04:#0002011 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Absolute distance measurements with micrometer resolution using white-light spectral interferograms processed by a phase-locked loop method

Popis výsledku v původním jazyce

A new spectral-domain interferometric method of measuring absolute distances is utilized when the effect of low dispersion in an interferometer is known and the spectral interference fringes are resolved over a wide spectral range. First, processing therecorded spectral interferograms by a phase-locked loop (PLL) method, which is a special simplified version of the general recurrence non-linear data processing method, the unmodulated spectrum, the spectral fringe visibility function and the unwrapped spectral fringe phase function are obtained. Then, knowing the dispersion relation for the material present in the interferometer, the material effective, thickness is determined. Finally, the positions of the interferometer mirror are determined precisely by fitting the recorded spectral interferograms to the theoretical ones knowing all the mentioned spectral functions.

Název v anglickém jazyce

Absolute distance measurements with micrometer resolution using white-light spectral interferograms processed by a phase-locked loop method

Popis výsledku anglicky

A new spectral-domain interferometric method of measuring absolute distances is utilized when the effect of low dispersion in an interferometer is known and the spectral interference fringes are resolved over a wide spectral range. First, processing therecorded spectral interferograms by a phase-locked loop (PLL) method, which is a special simplified version of the general recurrence non-linear data processing method, the unmodulated spectrum, the spectral fringe visibility function and the unwrapped spectral fringe phase function are obtained. Then, knowing the dispersion relation for the material present in the interferometer, the material effective, thickness is determined. Finally, the positions of the interferometer mirror are determined precisely by fitting the recorded spectral interferograms to the theoretical ones knowing all the mentioned spectral functions.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)

ISBN

0-8194-5322-6

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING

Místo vydání

BELLINGHAM, USA

Místo konání akce

St Petersburg, RUSSIA

Datum konání akce

1. 1. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000221670900008