Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49610040%3A_____%2F13%3A%2A0000116" target="_blank" >RIV/49610040:_____/13:*0000116 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Vyhodnocení a stanovení funkčních vlastností dielektrických antireflexních a pasivačních vrstev

Popis výsledku v původním jazyce

Postupy analýz pro charakterizaci pasivačních a antireflexních vrstev z hlediska optických, elektronických a kvantitatívných vlastností. Kvalita těchto vrstev úzce souvisí s chováním základního substrátu, proto jsou v metodice popsány techniky založené na studiu optických parametrů struktury i jako celku (Elipsometrie, opt. reflektometrie), charakterizaci substrátu s následným porovnáváním jeho chování pro padné stanovení pasivačních vlastností na povrchu substrátu aplikované pasivační vrstvy (MWPCD, QSSPC) a v neposledním řadě kvantitatívni vyhodnocení (FTIR).

Název v anglickém jazyce

Evaluation and determination of the functional properties of dielectric antireflection and passivation layers

Popis výsledku anglicky

The methodology describes the techniques and methods of analysis for the characterization of passivation and antireflection layers in terms of optical, electronic and quantitative properties. The quality of these layers is closely related to the behaviorof a base substrate, therefore the methodology describes the techniques for investigation of optical properties of the structure (Elipsometry, Opt. reflectometry), the characterization of the substrate, with comparison of its behavior and consequent determination of passivation properties of applied layer (MWPCD, QSSPC) and also the determination of quantive properties of the structure (FTIR).

Druh

N_metC - Metodiky certifikované oprávněným orgánem

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/FR-TI1%2F619" target="_blank" >FR-TI1/619: *Modifikace technologií depozice pasivačních a antireflexních vrstev metodou PECVD pro podmínky vertikalního reaktoru</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Interní identifikační kód produktu

CM-2013-619

Číslo předpisu

CM-2013-619

Technické parametry

Metodika vychází z meřících metod pro charatkerizaci tenkých dielektrických a pasivačních vrstev, které jsou běžnou součástí pro výzkum ve fotovoltaickém (i v polovodičovém) průmyslu. Její aplikace usnadňuje optimalizaci výrobních procesů a hlavně napomáhá k vyšetřování fundamentálích jevů pro zvýšení účinnosti křemíkových solárních článků. Výsledek slouží k vlastnímu využití a byla podepsána Smlouva o využití výsledků výzkumu a vývoje 2012/FR-TI1/619, s MPO ze dne 28.12.2012. Kontaktní osoba: Ing. Renáta Zetková, tel: 601375825, email: renata.zetkova@solartec.cz

Ekonomické parametry

Metodika přispívá k významnému zlepšení kontrolovatelnosti procesů depozice tenkých dielektrických vrstev na povrch křemíkových substrátů, a tím i ke zvýšení elektrické a vzhledové kvality solárních článků. Využití metodiky u realizátora přispěje ke kvalitnímu zhotovení zákaznických solárních článků a FV modulů.

Označení certifikačního orgánu

Solartec s.r.o., Televizní 2618, Rožnov pod Radhoštěm 756 61

Datum certifikace

—

Způsoby využití výsledku

B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy