Analýza na řádkovacím a transmisním elektronovém mikroskopu na dodaných vzorcích

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23210%2F17%3A43950103" target="_blank" >RIV/49777513:23210/17:43950103 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Analýza na řádkovacím a transmisním elektronovém mikroskopu na dodaných vzorcích
Popis výsledku v původním jazyce
Na dodaných vzorcích různých kovových materiálů byly provedeny podrobné mikrostrukturní analýzy s využitím řádkovací elektronovém mikroskopie (SEM) a řádkovací transmisní elektronové mikroskopie (STEM). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní spektroskopii (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro přesnější identifikaci jemných fází byly pomocí iontového svazky připraveny tenké fólie pro následnou STEM analýzu.
Název v anglickém jazyce
Analysis of delivered samples using scanning and scanning transmission electron microscopy
Popis výsledku anglicky
Delivered samples of various metals underwent detailed microstructure analysis using scanning electron microscopy (SEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM). Detectors of energy-dispersive spectroscopy (EDS) and electron back scattered diffraction analysis (EBSD) were used for characterisation of individual phases and structural components. Ion beam was utilized for preparation of thin foils for further STEM analysis which enabled more precise identification of fine phases.

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Podobné výsledky(10)