Rastrovací elektronový mikroskop s pomalými elektrony

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109096" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109096 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/04:PU45208

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Very Low Energy Scanning Electron Microscope

Popis výsledku v původním jazyce

An ultrahigh vacuum Scanning Electron Microscope with a Schottky field emission gun for surface analysis has been finished. The microscope is adapted to Auger spectroscopy and spectromicroscopy, SLEEM (Scanning Low Energy Electron Microscopy) and SLETEM(Scanning Low Energy Transmission Electron Microscopy)

Název v anglickém jazyce

Very Low Energy Scanning Electron Microscope

Popis výsledku anglicky

An ultrahigh vacuum Scanning Electron Microscope with a Schottky field emission gun for surface analysis has been finished. The microscope is adapted to Auger spectroscopy and spectromicroscopy, SLEEM (Scanning Low Energy Electron Microscopy) and SLETEM(Scanning Low Energy Transmission Electron Microscopy)

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KJB2065405" target="_blank" >KJB2065405: Studium nanostruktur elektronovým svazkem</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

G.I.T. Imaging and Microscopy

ISSN

1439-4243

e-ISSN

—

Svazek periodika

6

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

DE - Spolková republika Německo

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

47-49

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—