Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00375383" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00375383 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

Popis výsledku v původním jazyce

The group of low energy electron microscopy at ISI AS CR in Brno has developed a methodology for very low energy scanning electron microscopy at high image resolution by means of an immersion electrostatic lens (the cathode lens) inserted between the illumination column of a conventional scanning electron microscope and the sample. In this way the microscope resolution can be preserved down to a landing energy of the electrons one or even fractions of an electronvolt. In the range of less than several tens of electronvolts the image signal generation processes include contrast mechanisms not met at higher energies, which respond to important features of the 3D inner potential of the target and visualise its local crystallinity as well as the electronicstructure. The elecfron wavelength comparable with interatomic distances allows observation of various wave-optical phenomena in imaging.

Název v anglickém jazyce

Very low energy scanning electron microscopy in nanotechnology

Popis výsledku anglicky

The group of low energy electron microscopy at ISI AS CR in Brno has developed a methodology for very low energy scanning electron microscopy at high image resolution by means of an immersion electrostatic lens (the cathode lens) inserted between the illumination column of a conventional scanning electron microscope and the sample. In this way the microscope resolution can be preserved down to a landing energy of the electrons one or even fractions of an electronvolt. In the range of less than several tens of electronvolts the image signal generation processes include contrast mechanisms not met at higher energies, which respond to important features of the 3D inner potential of the target and visualise its local crystallinity as well as the electronicstructure. The elecfron wavelength comparable with interatomic distances allows observation of various wave-optical phenomena in imaging.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

International Journal of Nanotechnology

ISSN

1475-7435

e-ISSN

—

Svazek periodika

9

Číslo periodika v rámci svazku

8/9

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

22

Strana od-do

695-716

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—