Materiálová analýza na ŘEM

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23210%2F17%3A43950104" target="_blank" >RIV/49777513:23210/17:43950104 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Materiálová analýza na ŘEM
Popis výsledku v původním jazyce
Na dodaných vzorcích více-fázových mikrostruktur byly provedeny metalografické analýzy s využitím řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a dvousvazkového mikroskopu kombinujícího elektronový a iontový svazek (FIB). K charakterizaci jednotlivých fází a strukturních součástí byly použity rovněž detektor pro energiově-dispersní analýzu (EDS) a detektor pro difrakci zpětně odražených elektronů (EBSD). Pro získání prostorové představy o rozložení fází bylo využito dvousvazkového mikroskopu a postupného odstraňování povrchové vrstvy pomocí FIB.
Název v anglickém jazyce
Material analysis by SEM
Popis výsledku anglicky
Metallographic analysis was carried out at delivered multiphase microstructures using scanning electron microscope (SEM) and dual-beam microscope, which is combining electron and ion beam (FIB). Detectors of energy-dispersive analysis (EDS) and electron back scattered diffraction analysis (EBSD) were used for characterisation of individual phases and structural components. Ion beam was used for step by step removal of a thin surface layer of observed microstructure to produce better idea of spatial distribution of individual phases.

Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Podobné výsledky(10)