Simulace odrazů signálů způsobených odbočkami mikropáskového vedení
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F06%3A00000028" target="_blank" >RIV/49777513:23220/06:00000028 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Simulation of reflections caused by microstrip branch lines
Popis výsledku v původním jazyce
The article deals with influences of microstrip branch lines on scattering parameters. The microstrip lines are used for design of high frequency printed circuit boards in many cases. A change of scattering parameters on printed circuit boards is necessary to solve. Especially in design of the printed circuit boards for the high frequency circuits. This paper describes the results of the microstrip long wiring simulation of reflections and its branch lines on substrate.
Název v anglickém jazyce
Simulation of reflections caused by microstrip branch lines
Popis výsledku anglicky
The article deals with influences of microstrip branch lines on scattering parameters. The microstrip lines are used for design of high frequency printed circuit boards in many cases. A change of scattering parameters on printed circuit boards is necessary to solve. Especially in design of the printed circuit boards for the high frequency circuits. This paper describes the results of the microstrip long wiring simulation of reflections and its branch lines on substrate.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
10th IEEE workshop on signal propagation on interconnects
ISBN
1-4244-0454-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
169-171
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Hannover
Místo konání akce
Berlín
Datum konání akce
1. 1. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—