Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Parametry mikropáskového vedení způsobující znehodnocení přenášeného signálu

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F08%3A00500516" target="_blank" >RIV/49777513:23220/08:00500516 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Microstrip line parameters causing signal degradation

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Microstrip line is most widely used transmission line on printed circuit boards connecting electronic devices. Microstrip scattering parameter values depend on substrate parameters, processing technology of printed circuit boards and the design of transmission lines like geometric form and branch lines layout. The signal reflections relating to scattering parameters can cause the significant signal degradation. The results of the scattering parameters measurement and the simulation of different microstrip lines are presented and discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Microstrip line parameters causing signal degradation

  • Popis výsledku anglicky

    Microstrip line is most widely used transmission line on printed circuit boards connecting electronic devices. Microstrip scattering parameter values depend on substrate parameters, processing technology of printed circuit boards and the design of transmission lines like geometric form and branch lines layout. The signal reflections relating to scattering parameters can cause the significant signal degradation. The results of the scattering parameters measurement and the simulation of different microstrip lines are presented and discussed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ESTC 2008

  • ISBN

    978-1-4244-2813-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Piscataway

  • Místo konání akce

    Greenwich, Londýn

  • Datum konání akce

    4. 9. 2008

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000261094400095