Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F11%3A43899150" target="_blank" >RIV/49777513:23220/11:43899150 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice
Popis výsledku v původním jazyce
V článku jsou prezentovány aplikace vybraných mikroskopových technik vhodných pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice. Jedná se především o studium perspektivních polovodivých, vodivých a izolačních organických materiálů a o diagnostiku součástek, propojovacích struktur a plošných spojů. Popsaná diagnostická zařízení jsou dostupná v referenční mikroskopové laboratoři Katedry technologií a měření Západočeské univerzity v Plzni.
Název v anglickém jazyce
Microscopy method for diagnosis of materials and structures in electronics
Popis výsledku anglicky
Applications of appropriate microscope techniques for electronic materials and interconnection structures diagnostics are shown in this paper. The paper deals with prospective semiconductive, conductive and insulative organic materials research and diagnostics of components, substrates and its interconnections. Diagnostic equipment described in this paper is available in the reference laboratory of microscopy at the Department of Technologies and Measurement, University of West Bohemia in Pilsen.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0094" target="_blank" >ED2.1.00/03.0094: Regionální inovační centrum elektrotechniky (RICE)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Svazek periodika
56
Číslo periodika v rámci svazku
6
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
170-174
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—