One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F12%3A43921766" target="_blank" >RIV/49777513:23220/12:43921766 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a fast, one-scan algorithm for 1-D morphological opening on 2-D support. The algorithm is further extended to compute the pattern spectrum during a single image scan. The structuring element (SE) can be oriented under arbitrary anglethat makes it possible to perform different orientation-involved image analysis, such as the local angle extraction, directional granulometry, etc. The algorithm processes an image in constant time regardless the SE orientation and size in one scan, withminimal latency and very low memory requirements. For pattern spectra, the C-implementation yields an experimental speed-up of 27x compared to other suitable solutions. Aforementioned properties allow for efficient implementation on hardware platforms such as GPU or FPGA that opens a new opportunity of parallel computation, and consequently, further speed-up.
Název v anglickém jazyce
One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum
Popis výsledku anglicky
This paper presents a fast, one-scan algorithm for 1-D morphological opening on 2-D support. The algorithm is further extended to compute the pattern spectrum during a single image scan. The structuring element (SE) can be oriented under arbitrary anglethat makes it possible to perform different orientation-involved image analysis, such as the local angle extraction, directional granulometry, etc. The algorithm processes an image in constant time regardless the SE orientation and size in one scan, withminimal latency and very low memory requirements. For pattern spectra, the C-implementation yields an experimental speed-up of 27x compared to other suitable solutions. Aforementioned properties allow for efficient implementation on hardware platforms such as GPU or FPGA that opens a new opportunity of parallel computation, and consequently, further speed-up.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0094" target="_blank" >ED2.1.00/03.0094: Regionální inovační centrum elektrotechniky (RICE)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 19th International conference on image processing
ISBN
978-1-4673-2533-2
ISSN
1522-4880
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
133-136
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Lake Buena Vista, Florida
Místo konání akce
Lake Buena Vista, Florida, USA
Datum konání akce
30. 9. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000319334900030