Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F12%3A43921766" target="_blank" >RIV/49777513:23220/12:43921766 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper presents a fast, one-scan algorithm for 1-D morphological opening on 2-D support. The algorithm is further extended to compute the pattern spectrum during a single image scan. The structuring element (SE) can be oriented under arbitrary anglethat makes it possible to perform different orientation-involved image analysis, such as the local angle extraction, directional granulometry, etc. The algorithm processes an image in constant time regardless the SE orientation and size in one scan, withminimal latency and very low memory requirements. For pattern spectra, the C-implementation yields an experimental speed-up of 27x compared to other suitable solutions. Aforementioned properties allow for efficient implementation on hardware platforms such as GPU or FPGA that opens a new opportunity of parallel computation, and consequently, further speed-up.

  • Název v anglickém jazyce

    One-scan algorithm for arbitrarily oriented 1-D morphological opening and slope pattern spectrum

  • Popis výsledku anglicky

    This paper presents a fast, one-scan algorithm for 1-D morphological opening on 2-D support. The algorithm is further extended to compute the pattern spectrum during a single image scan. The structuring element (SE) can be oriented under arbitrary anglethat makes it possible to perform different orientation-involved image analysis, such as the local angle extraction, directional granulometry, etc. The algorithm processes an image in constant time regardless the SE orientation and size in one scan, withminimal latency and very low memory requirements. For pattern spectra, the C-implementation yields an experimental speed-up of 27x compared to other suitable solutions. Aforementioned properties allow for efficient implementation on hardware platforms such as GPU or FPGA that opens a new opportunity of parallel computation, and consequently, further speed-up.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0094" target="_blank" >ED2.1.00/03.0094: Regionální inovační centrum elektrotechniky (RICE)</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 19th International conference on image processing

  • ISBN

    978-1-4673-2533-2

  • ISSN

    1522-4880

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    133-136

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Lake Buena Vista, Florida

  • Místo konání akce

    Lake Buena Vista, Florida, USA

  • Datum konání akce

    30. 9. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000319334900030