Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

EIS aging estimation and threshold values

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F16%3A43929671" target="_blank" >RIV/49777513:23220/16:43929671 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://ieeexplore.ieee.org/document/7800684/" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/document/7800684/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ICHVE.2016.7800684" target="_blank" >10.1109/ICHVE.2016.7800684</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    EIS aging estimation and threshold values

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The aging of electrical insulation material is one of the main topics for designers of electrical appliances. Much effort has been devoted to prepare statistical or physical methods of life time estimation in real operation of electric machinery. One of the problems in the estimation of insulation operational life is the existence of threshold values at which the change of aging mechanisms occurs. The following is a rule for aging tests: aging must be performed so that the aging mechanism is the same as that in real operation. However, properly distinguishing different aging mechanisms is a real challenge. It can be expected that electrical insulating systems of high voltage machinery are operating under threshold value in case of electrical aging. We can determine the aging mechanism in a variety of ways, e.g., from aging data of large rotary machines and transformers, where the insulation systems were traditionally designed to encounter electrical stress under three kilovolts per millimeter. From more than fifty years of aging data, we can find examples of electrically unaged insulation. Of course, other aging mechanisms occur during this time (thermal, PDs, mechanical, etc.). Aging tests become disproportionately long, as we attempt to approach a level of operating stress. A method to estimate a threshold value for specific aging parameters is presented in this paper on example of thermal aging.

  • Název v anglickém jazyce

    EIS aging estimation and threshold values

  • Popis výsledku anglicky

    The aging of electrical insulation material is one of the main topics for designers of electrical appliances. Much effort has been devoted to prepare statistical or physical methods of life time estimation in real operation of electric machinery. One of the problems in the estimation of insulation operational life is the existence of threshold values at which the change of aging mechanisms occurs. The following is a rule for aging tests: aging must be performed so that the aging mechanism is the same as that in real operation. However, properly distinguishing different aging mechanisms is a real challenge. It can be expected that electrical insulating systems of high voltage machinery are operating under threshold value in case of electrical aging. We can determine the aging mechanism in a variety of ways, e.g., from aging data of large rotary machines and transformers, where the insulation systems were traditionally designed to encounter electrical stress under three kilovolts per millimeter. From more than fifty years of aging data, we can find examples of electrically unaged insulation. Of course, other aging mechanisms occur during this time (thermal, PDs, mechanical, etc.). Aging tests become disproportionately long, as we attempt to approach a level of operating stress. A method to estimate a threshold value for specific aging parameters is presented in this paper on example of thermal aging.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ICHVE 2016 - International Conference on High Voltage Engineering and Application : summary book

  • ISBN

    978-1-5090-0496-6

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-4

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Piscataway

  • Místo konání akce

    Chengdu, China

  • Datum konání akce

    19. 9. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku