Experimental validation of IGBT thermal impedances from voltage-based and direct temperature measurements
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F16%3A43929828" target="_blank" >RIV/49777513:23220/16:43929828 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://ieeexplore.ieee.org/document/7793673/" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/document/7793673/</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/IECON.2016.7793673" target="_blank" >10.1109/IECON.2016.7793673</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Experimental validation of IGBT thermal impedances from voltage-based and direct temperature measurements
Popis výsledku v původním jazyce
Temperature measurement on IGBT modules using voltage-based, direct and infrared methods is presented. The measured temperatures from all three methods are used in determining thermal impedances of IGBT and diodes for air cooled IGBT modules at different air flowrates. Thermal impedances for both active and passive switching elements are measured and the corresponding Foster network is established. The measured temperature and corresponding thermal impedances calculated from measured temperatures using the direct and voltage-based temperature measurement approach are validated using infrared temperature measurements and corresponding thermal impedances calculated from infrared measured temperatures. Finally, thermal impedances calculated from maximum measured IGBT and diode temperatures are compared to those obtained from measured average IGBT and diode temperatures.
Název v anglickém jazyce
Experimental validation of IGBT thermal impedances from voltage-based and direct temperature measurements
Popis výsledku anglicky
Temperature measurement on IGBT modules using voltage-based, direct and infrared methods is presented. The measured temperatures from all three methods are used in determining thermal impedances of IGBT and diodes for air cooled IGBT modules at different air flowrates. Thermal impedances for both active and passive switching elements are measured and the corresponding Foster network is established. The measured temperature and corresponding thermal impedances calculated from measured temperatures using the direct and voltage-based temperature measurement approach are validated using infrared temperature measurements and corresponding thermal impedances calculated from infrared measured temperatures. Finally, thermal impedances calculated from maximum measured IGBT and diode temperatures are compared to those obtained from measured average IGBT and diode temperatures.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0094" target="_blank" >ED2.1.00/03.0094: Regionální inovační centrum elektrotechniky (RICE)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the IECON 2016 : 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
ISBN
978-1-5090-3474-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
3396-3401
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Piscataway
Místo konání akce
Florence, Italy
Datum konání akce
24. 10. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—