Měřící systém tepelné vodivosti tenkých vrstev založený na pulzní fototepelné radiometrii a jeho aplikace na průmyslové otěruvzdorné vrstvy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F08%3A00500312" target="_blank" >RIV/49777513:23520/08:00500312 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/49777513:23640/08:00500312 RIV/49777513:23210/08:00500312
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films
Popis výsledku v původním jazyce
Measurement system for thin films thermal properties investigation based on nanosecond pulsed laser and two fast infrared detectors was developed. It can be used for measurement of thin film thermal effusivity and further for determination of its thermalconductivity and volumetric specific heat. The system was first evaluated on titanium bulk sample and titanium thin films. Finally, industrial wear resistant thin films were investigated.
Název v anglickém jazyce
Thin films thermal conductivity measurement system based on pulsed photothermal radiometry and its application to industrial wear resistant films
Popis výsledku anglicky
Measurement system for thin films thermal properties investigation based on nanosecond pulsed laser and two fast infrared detectors was developed. It can be used for measurement of thin film thermal effusivity and further for determination of its thermalconductivity and volumetric specific heat. The system was first evaluated on titanium bulk sample and titanium thin films. Finally, industrial wear resistant thin films were investigated.

Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)