Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F03%3A00000128" target="_blank" >RIV/49777513:23640/03:00000128 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Sledování tepelného zpracování a tvářecích procesů pomocí RTG difrakční topografie

Popis výsledku v původním jazyce

Rentgenová difrakční topografie dokazuje, že je výkonným nástrojem ke sledování změn vyvolaných tepelným zpracováním a tvářením ve struktuře polykrystalického materiálu. RTG difraktometrie je zhruba 3000-krát citlivější než světelný mikroskop, tak jako je délka záření používaného v RTG zhruba 3000-krát kratší než viditelné světlo. Je důležité, že kontrast pozorovaný v RTG je založen na difrakci, což umožňuje pozorovat ztrátu koherence dokonce i uvnitř krystalu, jež se jeví jako homogenní ve světelné mikroskopii. V tomto článku je toto ilustrováno řadou příkladů, ve kterých je pozorovaný efekt tepelného zpracování porovnán mezi RTG a světelným mikroskopem. Rozbití krystalu do strukturně koherentních domén, velmi dobře viditelný RTG topografií, znač ně ovlivňující dynamiku dislokací a, jako důsledek, také mechanické vlastnosti zkoumaného materiálu, není ve světelném mikroskopu pozorovatelné.

Název v anglickém jazyce

Monitoring heat-treatment and forming processes by X-ray diffraction topography

Popis výsledku anglicky

X-ray diffraction topography proves to be an efficient technique to follow the changes in the structure of polycrystalline materials induced by heat-treatment and forming. X-ray diffractometry is about 3000-times more sensitive than light microscopy as the wavelength of x-rays used is about 3000-times shorter than the wavelength of light. It is important that the contrast observed on x-ray topographs is based on diffraction which allows to recognize the loss of coherency even inside of crystals that a ppear as homogeneous under the light microscope. In the present lecture, this is illustrated by a number of examples, in which the effect of heat-treatment on the appearance of micrographs and x-ray diffraction patterns is compared. The break down of cr ystals into structurally coherent domains, well recognized from diffraction patterns, substantially influences dislocation dynamics, and, as a consequence, also the mechanical properties of the material under consideration, cannot be seen

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JS - Řízení spolehlivosti a kvality, zkušebnictví

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LN00B084" target="_blank" >LN00B084: Nové technologie Výzkumné centrum v Západočeském regionu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Defektoskopie 2003

ISBN

80-214-2499-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

41-48

Název nakladatele

Brno University of Technology

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Ostrava

Datum konání akce

19. 11. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—