Microstructure Determination of mc-Si:H Films Analysing the Breadths of Diffraction and Spectral Lines of XRD, FTIR and Raman Spectroscopies

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F12%3A43916613" target="_blank" >RIV/49777513:23640/12:43916613 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microstructure Determination of mc-Si:H Films Analysing the Breadths of Diffraction and Spectral Lines of XRD, FTIR and Raman Spectroscopies

Popis výsledku v původním jazyce

Microcrystalline silicon is very important material for silicon based thin-film solar cells. X-ray diffraction, Raman and FTIR spectroscopies are powerful experimental methods, which can answer the questions dealing with the crystal structure and hydrogen distribution in the material analyzed. On the other hand, optical band-gaps, spectral refractive indices and absorption properties of the films can be carried out from the UV-Vis spectroscopy.

Název v anglickém jazyce

Microstructure Determination of mc-Si:H Films Analysing the Breadths of Diffraction and Spectral Lines of XRD, FTIR and Raman Spectroscopies

Popis výsledku anglicky

Microcrystalline silicon is very important material for silicon based thin-film solar cells. X-ray diffraction, Raman and FTIR spectroscopies are powerful experimental methods, which can answer the questions dealing with the crystal structure and hydrogen distribution in the material analyzed. On the other hand, optical band-gaps, spectral refractive indices and absorption properties of the films can be carried out from the UV-Vis spectroscopy.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Progress in Applied Surface, Inteface and Thin Film Science 2012, SURFINT -SREN III

ISBN

978-80-223-3212-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

73-76

Název nakladatele

Univerzita Komenského Bratislava

Místo vydání

Bratislava

Místo konání akce

Florence, Italie

Datum konání akce

14. 5. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—