Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Emissivity measurement method for low emissivity samples

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F13%3A43921561" target="_blank" >RIV/49777513:23640/13:43921561 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Emissivity measurement method for low emissivity samples

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In the present work there is described a new method of measurement of total hemispherical emissivity by spectral reflectivity measurement. This method enables measurement of low emissivity samples with high precision. The used equipment, measurement andcalculation procedures and measurement uncertainty are described. There are two variations of the method: (i) specular directional reflectivity measurement and (ii) diffuse normal-hemispherical reflectivity measurement. The measurement uncertainties (coverage factor k=1) of the emissivity measurement methods are: (i) deltaepsilon=0.009 and (ii) deltaepsilon=0.019 (rough samples), deltaepsilon=0.006 (almost specular samples).

  • Název v anglickém jazyce

    Emissivity measurement method for low emissivity samples

  • Popis výsledku anglicky

    In the present work there is described a new method of measurement of total hemispherical emissivity by spectral reflectivity measurement. This method enables measurement of low emissivity samples with high precision. The used equipment, measurement andcalculation procedures and measurement uncertainty are described. There are two variations of the method: (i) specular directional reflectivity measurement and (ii) diffuse normal-hemispherical reflectivity measurement. The measurement uncertainties (coverage factor k=1) of the emissivity measurement methods are: (i) deltaepsilon=0.009 and (ii) deltaepsilon=0.019 (rough samples), deltaepsilon=0.006 (almost specular samples).

Klasifikace

  • Druh

    V<sub>souhrn</sub> - Souhrnná výzkumná zpráva

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Počet stran výsledku

    16

  • Místo vydání

  • Název nakladatele resp. objednatele

    Frentech Aerospace s.r.o.

  • Verze