Analysis of total hemispherical emissivity of samples with a thin film and a protective film

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F14%3A43924731" target="_blank" >RIV/49777513:23640/14:43924731 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Analysis of total hemispherical emissivity of samples with a thin film and a protective film
Popis výsledku v původním jazyce
In the present work there is described development of measurement method of total hemispherical emissivity based on spectral reflectivity measurement by means of FTIR spectrometer for polished samples with a thin film and a protective film (combination of diffuse and specular methods). Emissivities of samples with different protective coatings were analysed. Measurements were analysed, best candidates were chosen and recommendations were made for the space program.
Název v anglickém jazyce
Analysis of total hemispherical emissivity of samples with a thin film and a protective film
Popis výsledku anglicky
In the present work there is described development of measurement method of total hemispherical emissivity based on spectral reflectivity measurement by means of FTIR spectrometer for polished samples with a thin film and a protective film (combination of diffuse and specular methods). Emissivities of samples with different protective coatings were analysed. Measurements were analysed, best candidates were chosen and recommendations were made for the space program.

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Podobné výsledky(10)