Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Deposition technology of multi-layered absorption films on silicon quantum dots embedded in Si3N4 matrix

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23640%2F14%3A43924672" target="_blank" >RIV/49777513:23640/14:43924672 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Deposition technology of multi-layered absorption films on silicon quantum dots embedded in Si3N4 matrix

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Deposition technology of multi-layered absorption films with silicon nano-crystals vertically separated by Si3N4 dielectric layers has been developed. According to thickness of the silicon sub-layers and deposition technology used (chemical or physical deposition) average dimensions of silicon nano-crystals from 3 to 14 nm in diameter were obtained. As expected, the quantum size effect was more distinctive in smaller crystals, and this effect was also observed in initial as deposited a-Si:H/SiO2 films (one-dimensional quantum size effect - suitable also for photonic applications). Although, approximately the same results were obtained by using SiO2 and Si3N4 dielectric layers, nevertheless, the difference between SiO2 and Si3N4 is that the potential barriers created on the borders of the silicon crystals have different height.

  • Název v anglickém jazyce

    Deposition technology of multi-layered absorption films on silicon quantum dots embedded in Si3N4 matrix

  • Popis výsledku anglicky

    Deposition technology of multi-layered absorption films with silicon nano-crystals vertically separated by Si3N4 dielectric layers has been developed. According to thickness of the silicon sub-layers and deposition technology used (chemical or physical deposition) average dimensions of silicon nano-crystals from 3 to 14 nm in diameter were obtained. As expected, the quantum size effect was more distinctive in smaller crystals, and this effect was also observed in initial as deposited a-Si:H/SiO2 films (one-dimensional quantum size effect - suitable also for photonic applications). Although, approximately the same results were obtained by using SiO2 and Si3N4 dielectric layers, nevertheless, the difference between SiO2 and Si3N4 is that the potential barriers created on the borders of the silicon crystals have different height.

Klasifikace

  • Druh

    Z<sub>tech</sub> - Ověřená technologie

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0088" target="_blank" >ED2.1.00/03.0088: Centrum nových technologií a materiálů (CENTEM)</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Interní identifikační kód produktu

    NTC-OTE-14-011

  • Číselná identifikace

  • Technické parametry

    K přípravě multivrstev Si3N4/nc-Si se využívá PECVD aparatura SAMCO 220NA a k tepelnému zpracování vysokoteplotní komora AP 1200, která je součástí rtg difraktometru X'Pert Pro, tudíž lze současně sledovat "in situ" fázové transformace. Proces lze snadnopřenést na jiná podobná zařízení. Výsledek byl vytvořen, ověřen a uplatněn ve výrobě. David Lávička, Západočeská univerzita v Plzni (IČO 49777513), Nové technologie - výzkumné centrum, Univerzitní 8, 306 14 Plzeň, 377634714, dlavicka@ntc.zcu.cz. http://www.ntc.zcu.cz/vysledky/ot/NTC-OTE-14-011.html

  • Ekonomické parametry

    Výsledek je využíván příjemcem Západočeská univerzita v Plzni (IČO 49777513), ekonomické parametry se neuvádějí

  • Kategorie aplik. výsledku dle nákladů

  • IČO vlastníka výsledku

    49777513

  • Název vlastníka

    Západočeská univerzita v Plzni

  • Stát vlastníka

    CZ - Česká republika

  • Druh možnosti využití

    N - Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

  • Požadavek na licenční poplatek

  • Adresa www stránky s výsledkem