Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Charakterizace materiálů metodou SEM/EDS

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F05%3A00013552" target="_blank" >RIV/60461373:22310/05:00013552 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Charakterizace materiálů metodou SEM/EDS

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Rastrovací elektronový mikroskop je jedním z nejuniverzálnějších přístrojů pro sledování a analýzu pevných látek. Metoda rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) je schopna zobrazovat detaily zkoumaných objektů s nanometrovým rozlišením a uplatňuje se převážně v oblasti výzkumu materiálů, při studiu povrchových jevů a reakcí na rozhraní fází (katalýza, koroze). Ve spojení s metodou rentgenové mikroanalýzy umožňuje na jednom zkoumaném vzorku zobrazit povrch a zároveň provést i prvkovou mikroanalýzu. Příspěvek stručně shrnuje princip a možnosti využití SEM/EDS (zařízení je dostupné na FCHT VŠCHT Praha) při studiu materiálů. Tyto poznatky jsou doplněny o experimentální zkušenosti a příklady ilustrující možnosti metody.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of materials by method SEM/EDS.

  • Popis výsledku anglicky

    The scanning electron microscope is one of the most universal instruments for the observation and analysis of solid materials. Scanning Electron Microscope which can reach a magnification of 500,000X with a resolution of 2,5 nm is important for study ofmaterials, study of surfaces effects and reactions on interfaces (catalysis, corrosion). Instrument is equipped with two secondary electron detectors, a backscattered electron detector and x-ray detector for energy dispersive x-ray spectra (EDX or EDS) analysis. So it is possible observe surface and make analysis in the same time. The aim of this article is summarizing of principles and instrument employments for study of materials (this instrument is available on FCHT VŠCHT Praha). This information iscompleted with experimental experiences and examples.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    CG - Elektrochemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník symposia Nové trendy v anorganické technologii

  • ISBN

    80-7080-565-X

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    261-266

  • Název nakladatele

    VŠCHT Praha

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    26. 5. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku