Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00023010" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00023010 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/44555601:13440/10:00005507 RIV/00216275:25310/10:39881666

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate

Popis výsledku v původním jazyce

AFM, XRD, zeta (zeta) potential measurement and spectroscopic ellipsometry were used for characterization of thin (20 nm) Au films sputtered onto polyethyleneterephthalate (PET). Sputtered Au film shows significantly different Surface morphology and roughness in comparison with pristine PET. From XRD measurement of 20 nm thick sputtered Au layers it was found that Au crystalizes preferentially in (1 1 1) direction with lattice parameter of a = 0.40769 nm, density of rho = 19.338 g cm(-3) and lattice stress of about 230 MPa. Higher surface conductance of Au/PET by zeta-potential measurement was found. Au layer thickness of 19.4 nm determined from spectroscopic ellipsometry was in good agreement with the AFM estimated value of 20 nm.

Název v anglickém jazyce

Properties of Au nanolayer sputtered on polyethyleneterephthalate

Popis výsledku anglicky

AFM, XRD, zeta (zeta) potential measurement and spectroscopic ellipsometry were used for characterization of thin (20 nm) Au films sputtered onto polyethyleneterephthalate (PET). Sputtered Au film shows significantly different Surface morphology and roughness in comparison with pristine PET. From XRD measurement of 20 nm thick sputtered Au layers it was found that Au crystalizes preferentially in (1 1 1) direction with lattice parameter of a = 0.40769 nm, density of rho = 19.338 g cm(-3) and lattice stress of about 230 MPa. Higher surface conductance of Au/PET by zeta-potential measurement was found. Au layer thickness of 19.4 nm determined from spectroscopic ellipsometry was in good agreement with the AFM estimated value of 20 nm.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

CD - Makromolekulární chemie

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Materials Letters

ISSN

0167-577X

e-ISSN

—

Svazek periodika

64

Číslo periodika v rámci svazku

5

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000274567200017

EID výsledku v databázi Scopus

—