Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Využití SEM-FIB-EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00023116" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00023116 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Využití SEM-FIB-EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Jednou z mála metod, která je schopna určit krystalovou orientaci mřížky s rozlišením v řádu desítek nanometrů je vysokorozlišovací řádkovací elektronová mikroskopie (SEM) s detektorem difraktovaných zpětně odražených elektronů (EBSD). Spojení SEM-EBSD sfokusovaným iontovým svazkem (FIB), který umožňuje definované ?odprašování? materiálu, představuje techniku schopnou 3D mikrostrukturní analýzy. Tato práce se zabývá využitím metody EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů (hořčík, hliník a jejich slitiny) po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP. Na vybrané hliníkové slitině bude dále demonstrována 3D mikrostrukturní analýza a možnosti využití SEM-FIB-EBSD.

  • Název v anglickém jazyce

    Application of SEM-FIB-EBSD for microstructural characterization of light metals after ECAP

  • Popis výsledku anglicky

    Field emission scanning electron microscopy (FE-SEM) equipped with electron backscatter diffraction (EBSD) camera enables to obtain crystallographic information from samples with resolution of tens of nanometers. Focused ion beam (FIB) technique is usedfor precise milling of materials and in combination with SEM-EBSD represents an instrument for 3D microstructural characterization. In this paper, SEM-EBSD method was used for microstructural analysis of light metals after severe plastic deformation by ECAP. 3D reconstruction of the structure is demonstrated on selected aluminum alloy and possibilities of high resolution SEM-FIB-EBSD instrument for 3D materials characterization are pointed out.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JG - Hutnictví, kovové materiály

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/KAN300100801" target="_blank" >KAN300100801: Multifunkční objemové kovové materiály s nanokrystalickou a ultrajemnozrnnou strukturou</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Mikroskopie a nedestruktivní zkoušení materiálů

  • ISBN

    978-80-7414-280-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    UJEP

  • Místo vydání

    Ústí nad Labem

  • Místo konání akce

    Litoměřice, Česká republika

  • Datum konání akce

    1. 1. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku