3D characterization of material structure using scanning electron microscopy and focused ion beam

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00023126" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00023126 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

3D characterization of material structure using scanning electron microscopy and focused ion beam

Popis výsledku v původním jazyce

The importance of knowledge of the microstructure and its subsequent influence on properties is a basic tenet of material science. However, many commonly used characterization methods (e.g. scanning electron microscopy ? SEM) provide only information intwo dimensions (2D) and do not allow to obtain depth profile of material. The possibilities of analysis can be enhanced by utilizing focused ion beam (FIB). The FIB instrument allows revealing the structure in the third dimension by controlled and precise milling of the material. In combination with electron beam and suitable detector is possible to describe crystallography (EBSD) or chemical composition (EDS) etc. in three dimensions (3D). Thus, it is feasible to define real size, shape and distribution of microstructure features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.

Název v anglickém jazyce

3D characterization of material structure using scanning electron microscopy and focused ion beam

Popis výsledku anglicky

The importance of knowledge of the microstructure and its subsequent influence on properties is a basic tenet of material science. However, many commonly used characterization methods (e.g. scanning electron microscopy ? SEM) provide only information intwo dimensions (2D) and do not allow to obtain depth profile of material. The possibilities of analysis can be enhanced by utilizing focused ion beam (FIB). The FIB instrument allows revealing the structure in the third dimension by controlled and precise milling of the material. In combination with electron beam and suitable detector is possible to describe crystallography (EBSD) or chemical composition (EDS) etc. in three dimensions (3D). Thus, it is feasible to define real size, shape and distribution of microstructure features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JG - Hutnictví, kovové materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/KAN300100801" target="_blank" >KAN300100801: Multifunkční objemové kovové materiály s nanokrystalickou a ultrajemnozrnnou strukturou</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

METAL 2010

ISBN

978-80-87294-15-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Název nakladatele

TANGER

Místo vydání

Ostrava

Místo konání akce

Rožnov pod Radhoštěm

Datum konání akce

1. 1. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—