Application of Focused Ion Beam in materials science

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00023129" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00023129 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Application of Focused Ion Beam in materials science
Popis výsledku v původním jazyce
The fosuced ion beam is an instrument which allows imaging and precise milling of the material. It can reveal the structure in the third dimension as well as to prepare a lamella for transmission electron microscopy (TEM). The FIB combined with scanningelectron microscope (SEM) in one tool is an advanced technique for micro(nano)scale description of the materiasl in 3D and allows to define real size, shape and distribution of microstructural features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.
Název v anglickém jazyce
Application of Focused Ion Beam in materials science
Popis výsledku anglicky
The fosuced ion beam is an instrument which allows imaging and precise milling of the material. It can reveal the structure in the third dimension as well as to prepare a lamella for transmission electron microscopy (TEM). The FIB combined with scanningelectron microscope (SEM) in one tool is an advanced technique for micro(nano)scale description of the materiasl in 3D and allows to define real size, shape and distribution of microstructural features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.

Projekt
<a href="/cs/project/KAN300100801" target="_blank" >KAN300100801: Multifunkční objemové kovové materiály s nanokrystalickou a ultrajemnozrnnou strukturou</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)