DIFFUSION AT THE INTERFACE BETWEEN Ag DOPED SiO2 LAYERS AND THE GLASS SUBSTRATE
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F11%3A43891882" target="_blank" >RIV/60461373:22310/11:43891882 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
DIFFUSION AT THE INTERFACE BETWEEN Ag DOPED SiO2 LAYERS AND THE GLASS SUBSTRATE
Popis výsledku v původním jazyce
Silica layers containing silver were prepared by the sol-gel method and deposited on the Float glass substrate. Heat treatment at different temperatures (60 and 550°C) and time periods (1 to 6 hours) followed afterwards. Silica layer texture without anyparticles was observed by electron microscopy. Silver, sodium, tin and silicon concentration profiles on "tin" side of Float glass substrates and in the deposited layers were evaluated by the help of Secondary Neutral Mass Spectrometry and discussed withrespect to diffusion process taking place at the interface of the system substrate-layer. The concentration profiles of Ag and Na confirmed exchange diffusion mechanism at 550°C by which silver moves quickly from the surface layer into glass substrate.
Název v anglickém jazyce
DIFFUSION AT THE INTERFACE BETWEEN Ag DOPED SiO2 LAYERS AND THE GLASS SUBSTRATE
Popis výsledku anglicky
Silica layers containing silver were prepared by the sol-gel method and deposited on the Float glass substrate. Heat treatment at different temperatures (60 and 550°C) and time periods (1 to 6 hours) followed afterwards. Silica layer texture without anyparticles was observed by electron microscopy. Silver, sodium, tin and silicon concentration profiles on "tin" side of Float glass substrates and in the deposited layers were evaluated by the help of Secondary Neutral Mass Spectrometry and discussed withrespect to diffusion process taking place at the interface of the system substrate-layer. The concentration profiles of Ag and Na confirmed exchange diffusion mechanism at 550°C by which silver moves quickly from the surface layer into glass substrate.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JK - Koroze a povrchové úpravy materiálu
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/2A-1TP1%2F063" target="_blank" >2A-1TP1/063: Nové skelné a keramické materiály a pokročilé postupy jejich příprav a výrob.</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Ceramics-Silikáty
ISSN
0862-5468
e-ISSN
—
Svazek periodika
55
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
64-67
Kód UT WoS článku
000292119200012
EID výsledku v databázi Scopus
—